方位錨定能測量裝置對于取向材料的研發是必不可(kě)少(shǎo)的，它可(kě)以在單個(gè)扭曲向列相液晶盒中高(gāo)效、精确地控制(zhì)取向層的方位和(hé)極向錨定能。
該裝置可(kě)進行(xíng)扭曲向列相液晶盒中液晶扭曲角的自動測量及其方位錨定能的計(jì)算(suàn)[V. A. Konovalov, A. A. Muravski, S. Ye.Yakovenko, J. Pelzl, An Accurate Spectral Method for Measuring Twist Angle of Twisted Cells with Rubbed and Grooved Surfaces, SID Symp. Dig. Tech. Pap. 31, 1, pp. 620-623 (2000)]。
主要技(jì)術(shù)特點
方位錨定能的自動測量
方位錨定能測量裝置軟件會(huì)自動執行(xíng)一系列的計(jì)算(suàn)機操作(zuò)，包括液晶盒和(hé)光譜測量儀的樣品台旋轉以及分析儀和(hé)光譜測量儀的旋轉。所有(yǒu)測量均在液晶樣品的選定區(qū)域內(nèi)自動進行(xíng)，無需人(rén)工幹預。自動數(shù)據采集及其對液晶盒旋轉模型的計(jì)算(suàn)機分析提供了液晶扭曲角φt的測定，并計(jì)算(suàn)了方位錨定能常數(shù)Aφ。
測量參數(shù)*
*通(tōng)過基于帶電(diàn)氣控制(zhì)的偏光顯微鏡MICRO-200Т-01（選項1）和(hé)高(gāo)速光學輪廓儀（選項2）的方位錨定能測量裝置實現。
選項1 –電(diàn)氣控制(zhì)
極向錨定能的測量
方法A：反射與電(diàn)壓（電(diàn)光方式）
在扭曲向列相液晶盒中，在各種施加電(diàn)壓下的預傾角測量用于确定極向錨定 [A. Murauski, V. Chigrinov, H-S. Kwok, New method for measuring polar anchoring energy of nematic liquid crystals, Liq. Cryst. 36 (8), 779-786 (2009)]。
方法B：延遲與電(diàn)壓（電(diàn)光方式）
将VA 液晶盒中各種施加電(diàn)壓下的相位延遲測量用于極向錨定測定[X. Nie, Y.H. Lin, T.X. Wu, H.Wang, Z.Ge, S.T. Wu, Polar anchoring energy measurement of vertically aligned liquid-crystal cells, J. Appl. Phys. 98, 013516 (2005)]。
方法C：電(diàn)容與電(diàn)壓（電(diàn)氣方式）
在ECB和(hé)VA 液晶盒中，在各種施加電(diàn)壓下的同時(shí)測量電(diàn)容，用于極向錨定測定[A. Murauski, V. Chigrinov, A.Murasky, F.S.-Y. Yeung, J. Ho, H-S. Kwok, Determination of liquid-crystal polar anchoring energy by electrical measurements, Phys. Rev. E 71, 061707 (2005)]. Polar anchoring coefficient can be defined without using the LC materials parameters (elastic and dielectric constants)。
額外的電(diàn)氣特性
選項2 –高(gāo)速光學輪廓儀
基于在透射或反射模式下的平行(xíng)多(duō)通(tōng)道(dào)幹涉光譜測量，可(kě)以使用自動測量裝置，用于在玻璃或矽基闆上(shàng)厚度範圍從10 nm到20+μm的薄膜塗層的微米，亞微米和(hé)納米級厚度測量，加快數(shù)據分析和(hé)表面輪廓處理(lǐ)。
非常适合液晶透鏡，液晶透鏡陣列等的相位分布分析。
光學輪廓儀的附加特性
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