Simulator是Essential Macleod的新增功能, 可(kě)以幫助我們回答(dá)這個(gè)問題。

光學薄膜中的公差評定是個(gè)實際問題。沒有(yǒu)一個(gè)好的、通(tōng)用的分析技(jì)術(shù)。Essential Macleod裏的一個(gè)簡單工具－Errors, 假定所有(yǒu)膜層中的厚度誤差都是随機的，能夠顯示在許多(duō)薄膜中獨立控制(zhì)命令不可(kě)能精确，而用其它的方法确實能夠構造這些(xiē)薄膜。實事上(shàng)，公差和(hé)誤差的影(yǐng)響很(hěn)大(dà)程度上(shàng)依賴于控制(zhì)技(jì)術(shù)。通(tōng)過将誤差的Monte Carlo近似擴展到控制(zhì)過程的實際模型中去，Simulator解決了公差問題。

使用由Runsheet創建的控制(zhì)設計(jì), Simulator模拟沉積的控制(zhì)，同時(shí)引入随機和(hé)系統效應，如信号中的噪聲，加工因素的不同，材料密度誤差等等，并且顯示這些(xiē)參數(shù)對最後模拟的薄膜産品的影(yǐng)響。

Simulator比簡單的監控問題回答(dá)得(de)更多(duō)。所有(yǒu)與薄膜系統有(yǒu)關的其它的參數(shù)都可(kě)以轉換成檢查模拟和(hé)它們影(yǐng)響的參數(shù)。Simulator的結果顯示，在沒有(yǒu)改變系統中噪聲或精度時(shí)，某一膜層的監控過程中的一個(gè)小(xiǎo)小(xiǎo)改變，對DWDM應用的多(duō)腔分束器(qì)的設計(jì)中，能否引起實質性的改進。

注：要Simulator操作(zuò)正确，Runsheet提高(gāo)必須也存在。