該文檔描述利用FRED腳本編程語言一次對一組表面應用“重要性采樣定義”（importance sampling specifications）的一種方法。 與光源、表面、鍍膜、材料、散射模型、ARN和(hé)raytrace控制(zhì)設置不同， 散射的“重要性采樣定義”在Fred 的目标樹(shù)上(shàng)沒有(yǒu)參考節點。通(tōng)常情況下，用戶可(kě)能會(huì)通(tōng)過拖拉（drag and drop）的方式，把一個(gè)光學表面特性施加到一組光學表面，而散射“重要性采樣定義”因沒有(yǒu)目标樹(shù)上(shàng)的節點位置，無法用“拖拉”的方式進行(xíng)表面特性定義，它通(tōng)過利用腳本編程語言來(lái)實現這一功能。

 http://fred-kb.photonengr.com/files/2010/12/setImportanceSampling.frd

 Applying Importance Sampling Specifications in Script