準直系統中鬼像效應的研究

摘要 

仿真技(jì)術(shù)的主要作(zuò)用之一是提供一個(gè)平台，以便在系統制(zhì)造之前研究系統的性能，以便盡可(kě)能多(duō)地預防潛在的缺陷。雜散光是影(yǐng)響系統性能的最常見現象之一，雜散光可(kě)能有(yǒu)多(duō)個(gè)來(lái)源，其中包括系統中的內(nèi)部僞反射。在這個(gè)用例中，我們分析了高(gāo)Na激光二極管準直透鏡系統中這種反射的存在，我們模拟了産生(shēng)的鬼像對探測場(chǎng)的影(yǐng)響(由主準直光束的幹涉引起的同心環圖案和(hé)由雜散光産生(shēng)的二次發散)，并确定需要在透鏡系統的關鍵表面上(shàng)塗上(shàng)抗反射塗層。

 

 

建模任務

 

 

準直系統

 

 

非序列追迹

 

總結—元件…

 

 

系統光線追迹結果

 

 

完美的減反射(AR)塗層

 

 

有(yǒu)內(nèi)部反射

 

文件信息

 

進一步閱讀
• Modeling of Etalon with Planar or Curved Surfaces

• Channel Setting for Non-Sequential Tracing