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時(shí)間(jiān):2023-04-24 10:35來(lái)源:訊技(jì)光電(diàn)作(zuò)者: 技(jì)術(shù)部點擊:打印
摘要
  
斐索幹涉儀是工業上(shàng)常見的光學計(jì)量設備,通(tōng)常用于高(gāo)精度測試光學表面的質量。在VirtualLab Fusion中通(tōng)道(dào)配置的幫助下,我們建立了一個(gè)Fizeau幹涉儀,并将其用于測試不同的光學表面,例如圓柱形和(hé)球形表面。結果表明(míng),表面輪廓對幹涉條紋的産生(shēng)是敏感的。

 
建模任務 
 
 
測試表面

 
非序列追迹

 
通(tōng)用探測器(qì)和(hé)探測器(qì)附加組件
 
 
總結-組件


 
觀測下的傾斜平面

 
被觀測圓柱面
 
 
被觀測球面

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