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時(shí)間(jiān):2023-06-07 16:22來(lái)源:訊技(jì)光電(diàn)作(zuò)者: 技(jì)術(shù)部點擊:打印
摘要

組件內(nèi)部光場(chǎng)分析器(qì): FMM使用戶能夠研究微觀和(hé)納米結構內(nèi)的電(diàn)磁場(chǎng)分布。為(wèi)此,通(tōng)過應用傅裏葉模态法/嚴格耦合波分析(FMM/RCWA)計(jì)算(suàn)任意周期結構,包括透射和(hé)反射光栅、介電(diàn)或金屬光栅。也可(kě)以指定領域的哪一部分應該可(kě)視(shì)化:正向模式,反向模式,或兩者結合。

 
尋找組件內(nèi)部光場(chǎng)分析器(qì): FMM

          
組件內(nèi)部光場(chǎng)分析器(qì): FMM是光栅光學設置的專用功能,它提供了光栅結構內(nèi)部電(diàn)磁場(chǎng)的可(kě)視(shì)化。
 
 
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光栅表面的采樣
 
 
光栅表面的采樣
 
 
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