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利用邁克爾遜幹涉儀和(hé)傅裏葉變換光譜進行(xíng)相幹測量
時(shí)間(jiān):2023-06-20 16:16來(lái)源:訊技(jì)光電(diàn)作(zuò)者: 技(jì)術(shù)部點擊:打印
摘要

衆所周知,在幹涉儀中,條紋對比度可(kě)能取決于光源的相幹性。例如,在配有(yǒu)一定帶寬源的邁克爾遜幹涉儀中,幹涉條紋對比度随着兩臂之間(jiān)的光程差的增加而減小(xiǎo)。通(tōng)過測量可(kě)移動反射鏡在不同位置的幹涉圖對比度,可(kě)以得(de)出光源的相幹長度。典型的傅立葉變換光譜學通(tōng)常是基于這類光學裝置。
 
 
建模任務 
 
 
非序列追迹
 
 
探測器(qì)附加組件
 
 
參數(shù)運行(xíng)
 
 
總結-組件
 
 

 
橫向幹涉條紋–50 nm帶寬
 
 
橫向幹涉條紋–100 nm帶寬
 
 
軸上(shàng)點的輻射通(tōng)量測量
 
 
VirtualLab Fusion 技(jì)術(shù)
 
文件信息
 
 
更多(duō)閱覽
-基于激光的邁克爾遜幹涉儀與幹涉條紋探測
-馬赫-曾德爾幹涉儀
-用于光學測試的斐索幹涉儀
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