摘要
受激發射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技(jì)術(shù)，以實現在生(shēng)物應用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上(shàng)。通(tōng)過使用熒光過程的發射和(hé)損耗以及利用由此産生(shēng)的飽和(hé)效應，與通(tōng)常的顯微鏡技(jì)術(shù)(例如，寬視(shì)場(chǎng)顯微鏡)相比，後反射光顯示出更高(gāo)的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設備的基本設置。為(wèi)了模拟飽和(hé)效應，在焦點區(qū)域采用等效孔徑。
任務說明(míng)
多(duō)重光源
螺旋相位闆
探測器(qì)插件
參數(shù)運行(xíng)
為(wèi)了實現焦點區(qū)域的z-掃描，可(kě)以執行(xíng)參數(shù)運行(xíng)。使用此工具，用戶可(kě)以輕松改變整個(gè)光學系統的單個(gè)參數(shù)或一組參數(shù)。有(yǒu)關詳細信息，請(qǐng)參閱：
Usage of the Parameter Run Document
非時(shí)序建模
将通(tōng)道(dào)配置模式切換設置為(wèi)Manual Configuration後，用戶可(kě)以為(wèi)系統中的每個(gè)表面指定為(wèi)模拟打開(kāi)哪些(xiē)通(tōng)道(dào)。運行(xíng)模拟時(shí)，将對活動光路進行(xíng)初步分析（通(tōng)過所謂的Light Path Finder）。然後引擎将沿着這些(xiē)光路将場(chǎng)追蹤到系統中存在的探測器(qì)。
Channel Setting for Non-Sequential Tracing
總結 – 組件…
系統觀感
發射&損耗激光
光在焦點區(qū)域中的傳播表明(míng)，來(lái)自損耗激光的光會(huì)産生(shēng)環形光斑，其中中心孔徑小(xiǎo)于發射激光的焦斑。由于兩個(gè)光束在目标上(shàng)的熒光過程中競争，這導緻信号激光的有(yǒu)效光束尺寸更小(xiǎo)。
3D STED 輪廓
注意：由于這個(gè)簡化的例子不包括實際的熒光效應，我們為(wèi)了可(kě)視(shì)化目的對兩個(gè)激光束進行(xíng)了歸一化。
受激發射損耗效應
為(wèi)了近似飽和(hé)損耗的影(yǐng)響，我們在焦點位置對發射激光的結果應用了孔徑效應。孔徑的參數(shù)大(dà)緻基于損耗激光的焦點輪廓（600nm 直徑，25% 邊緣）。通(tōng)過系統傳播回探測器(qì)平面表明(míng)，由于這個(gè)過程，光斑變得(de)非常小(xiǎo)。
VirtualLab Fusion 技(jì)術(shù)
文件信息
進一步閱讀
• Simulation of Multiple Light Source in VLF
• Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy
市場(chǎng)圖片
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