光學相幹層析成像的工作(zuò)原理(lǐ)

摘要

掃描幹涉測量是一種表面高(gāo)度測量技(jì)術(shù)。通(tōng)過利用白色光源的低(dī)相幹性，隻有(yǒu)當路徑長度差落在相幹性長度內(nèi)時(shí)才出現幹涉圖案。因此，它能夠實現非常精确的測量，這一特性在光學相幹斷層掃描（OCT）的醫(yī)學成像中得(de)到了利用，OCT正是利用了這一物理(lǐ)原理(lǐ)。VirtualLab Fusion在單個(gè)平台上(shàng)的各種可(kě)交互建模技(jì)術(shù)有(yǒu)助于對相幹現象進行(xíng)高(gāo)效建模。在這個(gè)例子中，構造了一個(gè)帶有(yǒu)氙燈的邁克爾遜幹涉儀，并用于測量具有(yǒu)平滑調制(zhì)表面的樣品。

 

建模任務 

 

模拟與設置：單平台交互操作(zuò)
 

建模技(jì)術(shù)的單平台交互操作(zuò)

 

連接建模技(jì)術(shù)：光源

 

頻域方法

 

 

時(shí)域方法

 

 

交互式建模技(jì)術(shù)：消色差

 

 

消色差：鏡頭系統組件

 

 

交互式建模技(jì)術(shù)：分束器(qì)

 

交互式建模技(jì)術(shù)：自由空(kōng)間(jiān)傳播

 

 

交互式建模技(jì)術(shù)：帶樣品的鏡子

 

帶樣本的鏡子：采樣界面

 

 

連接建模技(jì)術(shù)：參考鏡子

 

連接建模技(jì)術(shù)：探測器(qì)

 

模拟結果

模拟幹擾條紋

 

模拟幹涉條紋–僞色

 

方法比較：LPIA與TEA

 

方法比較：頻域法與時(shí)域法

 

方法比較-僞色

 

文件信息

 

更多(duō)閱覽
-基于激光的邁克爾遜幹涉儀與幹涉條紋探測

-用于光學測試的斐索幹涉儀